|
SIMS是一种高灵敏度的表面分析技术，用于材料表面组分、污染物分析和材料最上层的深度分析。
HIDEN的SIMS分析材料表面最初的几微米，还提供深度分析，分辨率为5纳米。
HIDEN的SIMS工作站提供高性能的动态和静态SIMS应用，用于细致的表面组分分析和深度分析。
HIDEN的SIMS成像设备可提供高分辨率的表面化学地图。
我们的SIMS及SIMS工作站可以与用户已有的设备连接，或根据客户要求进行改造，或选取其中的部分组件。
产品
EQS SIMS探针
SIMS 工作站
IG 系列离子枪
PIC/3F 系列质谱仪
四极质谱仪组件 |
 |
| |
|
