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    XEM吸附分析仪器

    XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用,也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及的称量精度和稳定性。 XEMIS微量天平采用了HidenIsochema特有的外部感知技术,可在高温、高压条件下进行重量吸附分析,也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。

    更新时间:2020-07-27型号:XEM浏览量:91
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