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吸附分析仪器

简要描述:XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用,也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及的称量精度和稳定性。

XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技术,可在高温、高压条件下进行重量吸附分析,也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。

  • 产品型号:XEM
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2021-09-03
  • 访  问  量:114
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详细介绍

     XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用,也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及的称量精度和稳定性。 XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技术,可在高温、高压条件下进行重量吸附分析,也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。

产品特点

  • 外部感知技术,把敏感元件置于天平室外部,允许腐蚀性和易燃气体的操作

  • 几何对称、精密设计的微量天平

  • 内部容积小化

  • 大容量微量天平(5克),分辨率0.2μg和长期稳定性±5μg

  • 宽动态称量范围(0-200毫克)

  • 操作压力高达200bar

  • 单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量

  • 无需重新归零或原位校准

  • 采用IGA特有的终点预测方法

  • 全金属结构由高品质的VCR装配

  • 模块化设计,与所有配件兼容且可升级

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