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溅射中性粒子质谱仪

简要描述:MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMS和SNMS的光学采样。
·光栅控制,增强深度分析能力
·所有能量范围内,离子行程的小扰动,及恒定离子传输
·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器

  • 产品型号:MAXIM
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2021-09-03
  • 访  问  量:328
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详细介绍

MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMS和SNMS的光学采样。

·光栅控制,增强深度分析能力 ·所有能量范围内,离子行程的小扰动,及恒定离子传输 ·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 ·

质量数范围: 300amu,500amu,1000amu ·检测器: 离子计数探测器、正负离子探测器、107 cps ·质量过滤器: 3F四级杆 ·杆直径: 9mm ·加热: 250℃ ·离子源: 电子轰击,可用于SNMS和RGA的单根灯丝

 

MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMS和SNMS的光学采样。 ·光栅控制,增强深度分析能力 ·所有能量范围内,离子行程的小扰动,及恒定离子传输 ·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 ·质量数范围: 300amu,500amu,1000amu ·检测器: 离子计数探测器、正负离子探测器、107 cps ·质量过滤器: 3F四级杆 ·杆直径: 9mm ·加热: 250℃ ·离子源: 电子轰击,可用于SNMS和RGA的单根灯丝

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