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  • TOF-qSIMS飞行时间二次离子质谱仪
    TOF-qSIMS飞行时间二次离子质谱仪

    HidenTOF-qSIMS飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用,包括聚合物,药物,超导体,半导体,合金,光学和功能涂层以及电介质,检测限低于1ppm。$nTOF-qSIMSWorkstation包含了四极杆质谱和飞行时间质谱。

    更新时间:2020-09-18型号:TOF-qSIMS浏览量:1506
  • SIMS Workstation二次离子质谱仪
    SIMS Workstation二次离子质谱仪

    仪器简介: 1.适合做多层薄膜的深度分析。 2.很好的、耐用的、普通目的的二次离子质谱仪。 3.方便使用。 4.样品可以手动转换,由于分析速度快所以每天可以分析一定数量的样品。 5.我们的系统可配置快速原子枪,使我们可以轻松处理绝缘的样品。 6.我们还可以做元素成像(就象化学地图)和混合模式扫描,自动测量正、负和中性粒子。 7.我们的系统是典型的超高真空工作台,很容易满足很多其它分析

    更新时间:2020-07-27型号:SIMS Workstation浏览量:304
  • MAXIM溅射中性粒子质谱仪
    MAXIM溅射中性粒子质谱仪

    MAXIM二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMS和SNMS的光学采样。 ·光栅控制,增强深度分析能力 ·所有能量范围内,离子行程的小扰动,及恒定离子传输 ·灵敏度高/稳定的脉冲离子计数检测器

    更新时间:2020-07-27型号:MAXIM浏览量:305
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