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  • TOF-qSIMS飞行时间二次离子质谱仪
    Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用,包括聚合物,药物,超导体,半导体,合金,光学和功能涂层以及电介质,检测限低于1ppm。$nTOF-qSIMS Workstation 包含了四极杆质谱和飞行时间质谱。
    时间:2021-09-03型号:TOF-qSIMS浏览量:1762
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